当前位置:首页 > 行业标准 > YD/T 3037.2-2023

YD/T 3037.2-2023 通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分:UICC

标准名称:通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分:UICC

标准号:YD/T 3037.2-2023

发布日期:2023-12-20

实施日期:2024-04-01

制修订:修订

代替标准:YD/T 3037.2-2016

中国标准分类号:M36

国际标准分类号:33.060.20

技术归口:中国通信标准化协会

批准发布部门:工业和信息化部

行业分类:信息传输、软件和信息技术服务业

标准类别:方法标准

适用范围:本文件适用于支持大容量存储接口的UICC卡的研发和生产。

起草单位:中国信息通信研究院, 博鼎实华(北京)技术有限公司,中国移动通信集团有限公司,中国联合网络通信集团有限公司,中国电信集团有限公司,紫光国芯微电子股份有限公司,北京中电华大电子设计有限责任公司。

起草人:郑海霞、张苒、马凡、朱岩、邓建国、刘煜、乐祖辉、陈国华、王诗俊、刘斌、彭程、杨剑、赵敬超、何明、霍航宇、李建龙、王余、张炳楠、裴佳裕。

YD/T 3037.2-2023 通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分:UICC

声明:资源收集自用户分享或网络,仅为个人学习参考使用,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误