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JJF 1236-2010 半导体管特性图示仪校准规范

下载格式:pdf标准分类:计量标准

JJF 1236-2010标准基本信息

标准名称:半导体管特性图示仪校准规范

标准号:JJF 1236-2010

英文名称:Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers

发布部门:国家质量监督检验检疫总局

发布日期:2010-01-05

实施日期:2010-04-05

标准状态:现行

文件格式:PDF

起草单位:中国电子技术标准化研究所

起草人员:陈连启、于利红、刘冲

本规范适用于具有插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的校准。

JJF 1236-2010预览图:

JJF 1236-2010 半导体管特性图示仪校准规范

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