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T/CESA 1121-2020 人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法

下载格式:pdf标准分类:团体标准

T/CESA 1121-2020标准基本信息

标准名称:人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法

标准编号:T/CESA 1121—2020

英文标题:AI chips-Test metrics and test method of deep learning chips for terminal side

国际标准分类号:31.200

国民经济分类:I6520 集成电路设计

发布日期:2020年10月30日

实施日期:2020年11月10日

起草人:宋博伟、任翔、赵鑫、钟伟军、陶梦蝶、刘畅、韩银和、李威、全振宇、刘音、 李小娟、汪玉、葛广君、恽超、程新超、刘勇、罗恒、张文蒙、代翔、王和国、陆坚、吴庚、周生雷、 钟明琛

起草单位:中国电子技术标准化研究院、中国科学院计算技术研究所、华为技术有限公司、 清华大学、中科寒武纪科技股份有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、北京地平线机器人有限公司、 阿里巴巴平头哥半导体有限公司、深圳云天励飞技术有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、 上海阵量智能科技有限公司、北京君正集成电路股份有限公司和北京芯可鉴科技有限公司

T/CESA 1121-2020预览图:

T/CESA 1121-2020 人工智能芯片 面向端侧的深度学习芯片测试指标与测试方法

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