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T/CNIA 0064-2020 多晶硅行业用无尘擦拭布中杂质含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

下载格式:pdf标准分类:团体标准

T/CNIA 0064-2020标准基本信息

标准名称:多晶硅行业用无尘擦拭布中杂质含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

标准编号:T/CNIA 0064—2020

国际标准分类号:77.040.01金属材料试验综合

国民经济分类:C324 有色金属合金制造

发布日期:2020年05月27日

实施日期:2020年08月01日

起草人:王体虎、宗冰、蔡延国、魏东亮、田润朝、曹岩德、刘凤华、顾小祥、王桃霞、杨晓青、刘国霞、董燕军、刘红、陈英、王海礼、拜黎洁、张海燕、安军林

起草单位:亚洲硅业(青海)股份有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、苏州鸿博斯特超净股份有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、青海黄河上游水电开发有限责任公司新能源分公司、新特能源股份有限公司、内蒙古神舟硅业有限责任公司、国标(北京)检验认证有限公司

T/CNIA 0064-2020预览图:

T/CNIA 0064-2020 多晶硅行业用无尘擦拭布中杂质含量的测定  电感耦合等离子体原子发射光谱法

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