T/CIE 116-2021标准基本信息
标准名称：电子元器件故障树分析方法与程序
标准编号：T/CIE 116—2021
国际标准分类号：31.080.01半导体器分立件综合
国民经济分类：C397 电子器件制造
发布日期：2021年11月22日
实施日期：2022年02月01日
起草人：何小琦，陈媛，恩云飞，来萍，宋芳芳，王蕴辉，支越，路国光，任艳
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所
T/CIE 116-2021预览图：
T/CIE 116-2021 电子元器件故障树分析方法与程序
下载格式：pdf标准分类：团体标准
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