当前位置:首页 > 团体标准 > T/CASAS 030-2023

T/CASAS 030-2023 GaN毫米波前端芯片测试方法

下载格式:pdf标准分类:团体标准

T/CASAS 030-2023标准基本信息

标准名称:GaN毫米波前端芯片测试方法

标准编号:T/CASAS 030—2023

英文标题:Measurement methods on GaN millimeter Wave front-end MMIC

国际标准分类号:31.080.01半导体器分立件综合

国民经济分类:C398 电子元件及电子专用材料制造

发布日期:2023年06月30日

实施日期:2023年07月01日

起草人:周强、龚健伟、余旭明、刘建利、王茂俊、徐瑞鹏。

起草单位:中国电子科技集团第五十五研究所、中兴通讯股份有限公司、北京大学、苏州能讯高能半导体有限公司、中国科学院半导体研究所、中国电子科技集团第十三研究所、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟。

T/CASAS 030-2023预览图:

T/CASAS 030-2023 GaN毫米波前端芯片测试方法

声明:资源收集自用户分享或网络,仅为个人学习参考使用,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

不能下载?报告错误