GB/T 14619-2013 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

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厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片（GB/T 14619-2013）

本标准规定了厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的生产和采购,采用厚膜工艺的片式元件用氧化铝陶瓷基片（以下简称基片）也可参照使用。