GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法

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半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法（GB/T 42676-2023）

此标准描述了利用X射线衍射仪测试半导体材料双晶摇摆曲线半高宽，进而评价半导体单晶晶体质量的方法。此标准适用于碳化硅、金刚石、氧化镓等单晶材料晶体质量的测试，硅、砷化镓、磷化铟等半导体材料晶体质量的测试也可参照此标准执行。