GB/T 40128-2021 表面化学分析原子力显微术二硫化钼片层材料厚度测量方法

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表面化学分析原子力显微术二硫化钼片层材料厚度测量方法（GB/T 40128-2021）

此标准规定了利用原子力显微术测量层状二硫化钼纳米片厚度的测量方法。此标准适用于转移或生长在固体衬底表面的层状二硫化钼纳米片厚度的测量,测量范围从单层二硫化钼纳米片至厚度不大于100 nm，其他类似的纳米片层材料厚度测量也可参照此方法进行。