GB/T 43035-2023 半导体器件集成电路第20部分膜集成电路和混合膜集成电路总规范第一篇内部目检要求

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半导体器件集成电路第20部分膜集成电路和混合膜集成电路总规范第一篇内部目检要求（GB/T 43035-2023）

此标准的目的是检查膜集成电路和混合膜集成电路（FICs和HFICs，以下简称器件）内部的材料、结构和制造工艺。通常在封帽或包封前进行该项检验，从而找出并剔除带有内部缺陷的器件。这种缺陷会导致器件在正常应用中失效。其他的验收准则应与购买商或供应商商定。