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T/CNIA 0061-2020 硅外延用四氯化硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法

下载格式:pdf标准分类:团体标准

T/CNIA 0061-2020标准基本信息

标准名称:硅外延用四氯化硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法

标准编号:T/CNIA 0061—2020

国际标准分类号:77.040.01金属材料试验综合

国民经济分类:C356 电子和电工机械专用设备制造

发布日期:2020年05月27日

实施日期:2020年08月01日

起草人:严大洲、万烨、赵雄、楚东旭、刘凤华、蔡延国、邱艳梅、赵娟龙

起草单位:洛阳中硅高科技有限公司、亚洲硅业(青海)股份有限公司、新特能源股份有限公司、新疆协鑫新能源材料科技有限公司

T/CNIA 0061-2020预览图:

T/CNIA 0061-2020 硅外延用四氯化硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法

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