JJF 1760-2019标准基本信息
标准名称：硅单晶电阻率标准样片校准规范
标准号：JJF 1760-2019
英文名称：Calibration Specification for Standard Slices of Single Crystal Silicon Resistivity
发布部门：国家市场监督管理总局
发布日期：2019-09-27
实施日期：2020-03-27
标准状态：现行
替代标准：JJG 48-2004
文件格式：PDF
起草单位：中国计量科学研究院
起草人员：高英、李兰兰
本规范适用于电阻率在0.003 Ω·cm～1 000 Ω·cm之间的硅单晶电阻率标准样片的校准。
JJF 1760-2019预览图：
